Wydział Elektroniki i Informatyki

Politechniki Koszalińskiej

Aleksy Patryn

prof. dr hab. Aleksy Patryn

Katedra Elektroniki
ul. Śniadeckich 2, pok. 301A, 75-453 Koszalin
tel. +48 94 3478 725
email: aleksy.patryn[at]tu.koszalin.pl
ORCID: 0000-0002-5507-6833

Pełnione funkcje:

Aktualne:
[1] Członek Rady Wydziału
[2] Członek Rady Naukowej dyscypliny Automatyka, Elektronika, Elektrotechnika i Technologie Kosmiczne
Wcześniejsze:
[1] Prodziekan do spraw nauki - w latach 2008 - 2016

[2] Członek Rady Naukowej dyscypliny Automatyka, Elektronika i Elektrotechnika

[3] Przewodniczący Komitetu Redakcyjnego Zeszytów Naukowych Wydziału Elektroniki i Informatyki

Aktywność naukowa

Ostatnie publikacje (wg. Scopus):

[1]	Andriyevsky B., Bychto L., Dorywalski K., Schade U., Puskar L., Patryn A., Hapka A., Mydłowska K., Veber A., Kashuba A.I. , Reddy K.T.R. The optical properties of In2S3 films in the far-infrared spectral range, Infrared Physics and Technology, 2023, 131, 104662, DOI 10.1016/j.infrared.2023.104662
[2]	Gąsiorowski M., Dasgupta S., Bychto L., Taimur A., Wojciechowski K., Patryn A. Analysis of Perovskite Solar Cell Degradation over Time Using NIR Spectroscopy—A Novel Approach, Energies, 2022, 15(15), 5397, DOI 10.3390/en15155397
[3]	Gąsiorowski, M., Szymak, P. , Patryn, A. , Naus, K. Monitoring Time-Non-Stable Surfaces Using Mobile NIR DLP Spectroscopy, Electronics (Switzerland), 2022, 11(13), 1945, DOI 10.3390/electronics11131945
[4]	Kołtunowicz, T.N., Kierczynski, K., Okal, P., Patryn, A., Gutten, M. Diagnostics on the Basis of the Frequency-Temperature Dependences of the Loss Angle Tangent of Heavily Moistured Oil-Impregnated Pressboard, Energies, 2022, 15(8), 2924, DOI 10.3390/en15082924
[5]	Gąsiorowski, M., Szymak, P., Bychto, L., Patryn, A. Application of Artificial Neural Networks in Analysis of Time-Variable Optical Reflectance Spectra in Digital Light Projection Spectroscopy, Coatings, Volume 12, Issue, 1January 2022, Article number 37, DOI 10.3390/coatings12010037
[6]	Razykov T.M., Patryn A., Maliński M., Bychto L., Ergashev B., Kouchkarov K., Shukurov A., Makhmudov M., Isakov D. Optical and Recombination Parameters of CdS1−xTex Thin Films Obtained by the CMBD Method, Coatings, Volume 12, Issue 1, January 2022, Article number 5, DOI 10.3390/coatings12010005
[7]	Razykov T.M., Patryn A., Maliński M., Bychto L., Ergashev B., Kouchkarov K., Shukurov A., Makhmudov M., Isakov D. Optical Properties of CdS1 – xTex Thin Films Obtained by Chemical Molecular Beam Deposition Method, Applied Solar Energy (English translation of Geliotekhnika), Volume 57, Issue 3, Pages 181 – 187, May 2021, DOI 10.3103/S0003701X21030063
[8]	Rasool S.,Saritha K.,Reddy K.T.R.,Bychto L.,Patryn A.,Malinski M.,Tivanov M.S.,Gremenok V.F., Optoelectronic properties of In2S3 thin films measured using surface photovoltage spectroscopy, 2019, Materials Research Express, p.
[9]	Rasool S.,Saritha K.,Reddy K.T.R.,Tivanov M.S.,Trofimova A.V.,Tikoto S.E.,Bychto L.,Patryn A.,Malinski M.,Gremenok V.F., Effect of annealing on the physical properties of thermally evaporated In2S3 thin films, 2019, Current Applied Physics, p. 108-113
[10]	Bychto L.,Malinski M.,Patryn A.,Tivanov M.,Gremenok V., Determination of the optical absorption spectra of thin layers from their photoacoustic spectra, 2018, Optical Materials, p. 196-199
[11]	Rasool S.,Saritha K.,Reddy K.T.R.,Reddy K.R.,Bychto L.,Patryn A.,Malinski M.,Tivanov M.S.,Gremenok V.F., Optical properties of thermally evaporated In2S3 thin films measured using photoacoustic spectroscopy, 2017, Materials Science in Semiconductor Processing, p. 4-8
[12]	Gremenok V.F.,Reddy K.T.R.,Tivanov M.S.,Patryn A., Effect of annealing on the structure of thermal evaporated In2S3 thin films Wpływ obróbki temperaturowej na termicznie naparowane cienkie warstwy In2S3, 2017, Przeglad Elektrotechniczny, p. 89-91
[13]	Andriyevsky B.,Janke W.,Patryn A.,Malinski M.,Stadnyk V.,Romanyuk M., Ab initio molecular dynamics calculations of heat conductivity for silicon related materials Obliczenia z pierwszych zasad przewodności cieplnej materiałów na bazie krzemu metodą dynamiki molekularnej, 2017, Przeglad Elektrotechniczny, p. 61-63
[14]	Tivanov M.,Kaputskaya I.,Patryn A.,Saad A.,Survilo L.,Ostretsov E., Determination of CdSxSe1-x thick films optical properties from reflection spectra Wyznaczanie parametrów optycznych grubych warstw CdSxSe1-x z analizy widma odbicia, 2016, Przeglad Elektrotechniczny, p. 88-90
[15]	Tivanov M.,Moskalev A.,Patryn A., Determination of cu(In,ga)(s,se)2–solar cell parameters from quantum efficiency spectra Wyznaczanie parametrów Cu(In,Ga)(S,Se)2 ogniw słonecznych z widma wydajności kwantowej, 2015, Przeglad Elektrotechniczny, p. 188-190
[16]	Andriyevsky B.,Kurlyak V.Yu.,Stadnyk V.Yo.,Romanyuk M.O.,Patryn A., Electronic band structure and optical properties of ferroelectric TGS, TGSe and TGFB crystals, 2015, Materials Chemistry and Physics, p. 787-793
[17]	Bychto L.,Patryn A., Modulated free-carrier absorption in silicon - a spectroscopy approach, 2015, Physica Status Solidi (B) Basic Research, p. 1311-1318

Aktywność na Wydziale:

19.11.2019	Seminarium naukowe
02.10.2018	Wyróżnienia Stowarzyszenia Elektryków Polskich dla promotorów
28.09.2017	Dzień otwarty Politechniki

Komisje:

[1]	Komisja ds. Studiów Doktoranckich
[2]	Komisja do przeprowadzania czynności w postępowaniu w sprawie nadania stopnia doktora w dziedzinie nauk inżynieryjno-technicznych w dyscyplinie Automatyka, Elektronika i Elektrotechnika
[3]	Komisja do analizy jakości dyplomowania, analizy i zatwierdzania tematów prac dyplomowych dla kierunku Elektronika i Telekomunikacja