Filia Politechniki Koszalińskiej

Stacjonarny system do mikrotomografii komputerowej  BRUKER SKYSCAN 1275

Przemysłowy mikrotomograf rentgenowski służy do nieinwazyjnego badania wewnętrznej struktury materiałów i identyfikacji jej właściwości fizycznych jak rozkład gęstości, geometria włókien itd., z dokładnością do pojedynczych mikrometrów. Informacja o budowie wewnętrznej materiału, z tak dużą dokładnością, znajduje zastosowanie przede wszystkim do oceny wpływu nowych technologii na właściwości wytworzonych za jej pomocą materiałów, ale nie tylko.

Przykładowe zastosowania mikrotomografii rentgenowskiej odnoszą się do badań: trójwymiarowego przestrzennego rozkładu elementów strukturalnych (cząstek, włókien i innych), analizy wielkości elementów strukturalnych wraz z ich rozmieszczeniem na długości, średnicy, w warstwach, analizy grubości warstw materiałów kompozytowych, a także zaawansowanych badań materiałów porowatych w szczególności: analizy kształtu i wymiarów elementów w ujęciu przestrzennym, oceny zmiany wielkości i kształtu elementów struktury na skutek zastosowania nowych technologii lub wskutek fizycznego zużycia.

Główne parametry systemu to:

• Maksymalna  średnica  skanowania próbki 96mm,  maksymalna  wysokość próbki 120mm,
• Źródło  promieniowania  z  ciągłą  zmianą  piku  energetycznego  w  zakresie  20-100kV,
• Rozmiar  voxela:  <4µm, 
• Przystawka do ściskania maksymalny nacisk 4400N.

Zakres prac badawczych:

• analiza 3D morfologii materiałów i kompozytów, obrazowanie struktury 3D materii,
• obrazowanie przekrojów próbki w dowolnej płaszczyźnie,
• identyfikacja budowy wewnętrznej materiału porowatego, rozkładu cząstek, włókien, porów, itd. oraz określanie jego gęstości,
• identyfikacja kształtu i wielkości elementów strukturalnych oraz ich rozmieszczenia w objętości materiału badanego,
• identyfikacja parametrów geometrycznych warstw materiałów kompozytowych,
• identyfikacja zmian budowy wewnętrznej materiału w zależności od zastosowanej technologii wytworzenia lub zmian wynikających ze zużycia,
• analiza rozkładu i wymiarów wtrąceń- zanieczyszczeń,
• badania realizowane w warunkach laboratoryjnych.

Analizator termiczny NETZSCH STA 449 F3 Jupiter - FTIR Perseus

Analizator termiczny służy do badania właściwości fizykochemicznych szeregu materiałów, substancji klejących oraz powłok stosowanych w przemyśle. Badany materiał pod wpływem temperatury ulega przemianom, których charakter można zaobserwować poprzez bardzo dokładny pomiar zmiany masy, strumienia ciepła pochłanianego i wytwarzanego przez próbkę oraz na podstawie analizy gazowych produktów rozkładu termicznego. Dzięki zastosowaniu urządzenia można zidentyfikować skład badanego materiału, jak również zoptymalizować parametry procesów technologicznych związanych z jego termicznym przetwarzaniem. Przykładowe procesy możliwe do zoptymalizowania obejmują: klejenie, obróbkę cieplną, wytwarzanie i przetwarzanie kompozytów, wpływ recyklingu na właściwości materiałów, itd.

Główne parametry systemu to:

• Analizator termiczny zapewniający rzeczywisty pomiar TG, DTA–TG, DSC-TG,
• Zakres temperatur RT ÷ 1600 °C (temperatura próbki),
• Rozdzielczość TG: 0,1 μg (w całym zakresie), maksymalna naważka: 35 g.,
• Rozdzielczość cyfrowa dla trybu TG-DSC: 1µW,
• Spektrometr FTIR zakres pomiarowy: 500 cm-1 and 6000 cm^-1 rozdzielczość 2 cm^-1.

Zakres prac badawczych:

• identyfikacja składu chemicznego analizowanego materiału,
• badanie zmian wybranych właściwości fizycznych materiału pod wpływem zmieniającej się w zadany sposób temperatury w atmosferze utleniającej bądź obojętnej (np. trwałości termicznej, wilgotności, odporności korozyjnej),
• ocena przebiegu procesów chemicznych i przemian fazowych zachodzących w określonym materiale pod wpływem ogrzewania,
• identyfikacja parametrów termodynamicznych reakcji zachodzących podczas ogrzewania materiału,
• wyznaczanie ciepła właściwego, oznaczanie czystości substancji,
• wyznaczanie temperatury topnienia i rozkładu substancji,
• wyznaczanie czasu życia (wiązania) żywic polimerowych w kompozytach polimerowodrzewnych,
• badania prowadzone w warunkach laboratoryjnych.
   

Skaner 3D GOM ARAMIS Adjustable Base 12M Essentional

Skaner przeznaczony jest do pomiaru i analizy odkształceń w przestrzeni trójwymiarowej elementów poddanych działaniu sił zewnętrznych. Umożliwia bezdotykowy pomiar przemieszczenia charakterystycznych punktów badanego elementu oraz rejestrację danych, niezbędnych do opracowania modelu matematycznego, przeznaczonego do dalszych analiz wytrzymałościowych. Narzędzie rejestruje kilkaset obrazów w ciągu jednej sekundy, co pozwala na szczegółowe śledzenie zmian geometrii i uzyskanie pełnej wiedzy o zachodzącym procesie destrukcji materiału. Analiza tego procesu umożliwia zidentyfikowanie newralgicznych węzłów konstrukcji i może stanowić podstawę do podjęcia prac nad jej optymalizacją.

Główne parametry systemu to:

• Rozdzielczość do 4096 x 3000 pixeli,
• Częstotliwość wykonywania zdjęć: do 100 Hz,
• Zapis analogowych sygnałów z czujników do 8 kanałów.

Zakres prac badawczych:

• bezkontaktowy pomiar przestrzennych przemieszczeń charakterystycznych punktów elementu poddanego działaniu sił zewnętrznych,
• rejestracja zjawisk zachodzących podczas destrukcji materiału poddanego działaniu sił zewnętrznych z częstotliwością do kilkuset zdjęć na sekundę,
• określanie parametrów wytrzymałościowych materiału na podstawie jego odkształceń pod działaniem sił zewnętrznych,
• możliwość realizacji badań poza laboratorium